近場分布光度計

GO-NR1000 近場分布光度計

近場光度分布測量，建立光線模型 為光源的二次光學(xué)設(shè)計和研發(fā)提供準(zhǔn)確的依據(jù)

典型應(yīng)用場景

適用于LED光源、燈珠、模組等各類小光源，主要測試包括：空間光強分布曲線、空間顏色分布曲線、平面等照度曲線、樣品總光通量、有效光通量，空間亮度曲線等。測試數(shù)據(jù)可以保存為IESNA（*.ies）、CIBSE（*.cib）、EULUMDAT（*.ldt）、CIE（*.cie）、CEN（*.cen）等格式的文件，可直接作為國際通用的照明設(shè)計軟件的輸入數(shù)據(jù)；空間亮度數(shù)據(jù)可以導(dǎo)入近場光線生成軟件，生成能夠?qū)氲谌降墓饩€數(shù)據(jù) （TracePro和LightTools ）。

主要特點

一、為光源的二次光學(xué)設(shè)計和研發(fā)提供準(zhǔn)確的依據(jù)

近場分布光度計采用基于二維CCD的成像亮度計作為探測原件，測量記錄光源在各個方向上的亮度分布，即光源上各發(fā)光點在各方向上的光通量，進而建立待測光源的實際光線分布模型，可將該模型輸入光學(xué)設(shè)計軟件中，進行燈具的配光設(shè)計和照明現(xiàn)場設(shè)計。

二、角度精確定位實現(xiàn)對光源近場空間任意位置測量

通過調(diào)節(jié)機構(gòu)調(diào)節(jié)光源的精確位置和角度精確定位，可有效克服傳統(tǒng)分布光度計測量光源在遠(yuǎn)距離下及測量多顆具有一定光束角的LED組成的LED模組分布時測量精度差問題。

三、為光源建立起真實的光線模型，為光學(xué)設(shè)計提供準(zhǔn)確的依據(jù)

遠(yuǎn)方GO-NR1000近場分布光度計可做為被測樣品建立起真實的光線模型，可為光學(xué)設(shè)計提供更為詳盡的數(shù)據(jù)。

主要技術(shù)指標(biāo)

LED模塊和燈具的光色電綜合性能測試

測量傳統(tǒng)光源/LED燈和燈具的相對光譜功率分布、色品坐標(biāo)、色溫、顯色指數(shù)、色容差、峰值波長、主波長、平均波長、色純度、色比、半寬度、光通量、光輻射功率、電壓、電流、功率、功率因素、諧波等，參考國際照明委員會CIE對光和顏色測量要求。 可自動描繪LED燈及各類光源起動后光通量/功率/電壓/電流隨時間的變化曲線，并可自動判斷光源上升時間和穩(wěn)定時間。具備電壓、電流、光通量、波長多檔分級及白光LED色品分區(qū)功能，滿足LED生產(chǎn)線的快速分選測試。

推薦產(chǎn)品

ATA-500/1000 LED自動溫控光電分析測量系統(tǒng)

PCE 系列光色電綜合測試系統(tǒng)

LED模組、燈和燈具的配光性能測試

用于LED模塊、LED燈具和其他光源及燈具總光通量、區(qū)域光通量、空間光強分布曲線（配光曲線）、光強數(shù)據(jù)、光束角、等照度圖、等光強圖、利用系數(shù)、亮度限制曲線、眩光等級、有效平均照度曲線等參數(shù)的高精度測試； 可實現(xiàn)各種光源、燈具空間顏色分布、亮度分布測量、閃亮面積測量、平均顏色特性及空間顏色不均勻性測量； 符合國際標(biāo)準(zhǔn)要求的測控軟件：測試結(jié)果能直接以IESNA（95,2001）、EULUMDAT、CIBSE（TM14），CIE等國際通用的標(biāo)準(zhǔn)格式文件輸出。

推薦產(chǎn)品

GO-R5000 全空間快速分布光度計

GO-2000 臥式分布光度計

LED模組和燈具的加速老化試驗和壽命測試

用于LED燈和燈具、LED陣列的常規(guī)老化、加速老化、光通維持特性試驗、顏色漂移試驗和壽命試驗，并具備LED壽命推算及預(yù)估功能。實時的在線光電參數(shù)自動測試，可測量光色電參數(shù)隨溫度的變化函數(shù)。 參考IESNA LM-82-12、IESNA LM-82-14、IES TM-2/8-14、ENERGY STAR等國際及國內(nèi)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。

推薦產(chǎn)品

LT-300A LED燈和燈具加速老化與壽命測試系統(tǒng)

LT-500A LED燈和燈具加速老化與壽命測試系統(tǒng)

光源、LED燈和燈具的光輻射安全測試

燈具的光譜分布、光譜輻亮度、光譜輻照度、照度、危害加權(quán)輻射曝光量、等效紫外輻射比（mW/klm）、表觀光源尺寸、色溫、色坐標(biāo)、顯色指數(shù)、色容差等參數(shù)（也即62471測試）。包括皮膚和眼睛的光化學(xué)紫外危害、眼睛的近紫外危害、視網(wǎng)膜藍(lán)光危害、視網(wǎng)膜熱危害等輻射危害測試，并根據(jù)危害性程度進行光輻射安全等級評定。 參考IEC/EN 62471/CIE S009、IEC/TR 62778、GB/T 20145、IEC/EN 60598、IEC/EN 60335、GB/T30117、GB7000.1、2009/125/EC歐盟指令等標(biāo)準(zhǔn)要求。

推薦產(chǎn)品

SRS-200A 光譜輻亮度輻射安全測試系統(tǒng)

OST-500 光輻射安全測定系統(tǒng)

光源頻閃測試系統(tǒng)

結(jié)合現(xiàn)行的標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)規(guī)范，能夠提供齊全的頻閃評價參數(shù)，并能自動根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)判別頻閃安全等級。可測量光閃爍的時域和頻域分析圖、基準(zhǔn)頻率、閃爍百分比（PF）、閃爍指數(shù)（FI）、調(diào)制深度（MD）、調(diào)制百分比（參考CEC法規(guī)）、Pst (參考IEC標(biāo)準(zhǔn))、Mp （參考ASSIST推薦）、SVM（參考CIE TC預(yù)案）

推薦產(chǎn)品

LFA-3000 光源頻閃測試系統(tǒng)

零電壓開啟光源啟動/上升時間測量系統(tǒng)

參考?xì)W盟指令1194/2012、2009/125/EC及國際標(biāo)準(zhǔn)IEC60969《Self-ballasted Lamps for General Lighting Services—Performance Requirements》等設(shè)計，專用于LED燈及燈具、節(jié)能燈等各類光源的啟動時間（starting time）和上升時間（run-up time）的測量。

推薦產(chǎn)品

START-1000 光源啟動上升時間測試系統(tǒng)電磁兼容（EMC）測試

參考IEC及LED相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計，對LED驅(qū)動電源、LED、LED模塊、LED燈具等進行電磁兼容試驗。測試項目涉及靜電放電（ESD）、快速瞬變脈沖（EFT）、雷擊浪涌（SURGE）、周波跌落（DIP）、振鈴波等。

推薦產(chǎn)品

EMS61000-2A 靜電放電發(fā)生器

EMS61000-4A 脈沖群發(fā)生器

EMS61000-5A 雷擊浪涌發(fā)生器

EMS61000-11K 周波跌落發(fā)生器

HFM3000 諧波和閃爍測試系統(tǒng)

系統(tǒng)簡介

遠(yuǎn)方光電提供專業(yè)的建筑節(jié)能檢測解決方案，主要包括GB50411建筑節(jié)能燈具效率檢測設(shè)備、建筑照明采光檢測設(shè)備、建筑玻璃及建筑用反射隔熱涂料隔熱性能檢測設(shè)備以及認(rèn)證級鎮(zhèn)流器諧波含量檢測設(shè)備。

建筑照明采光檢測設(shè)備

建筑照明采光檢測設(shè)備用于測量建筑照明現(xiàn)場照度、照度均勻性、光譜輻照度、相關(guān)色溫、顯色指數(shù)、亮度、亮度均勻性、統(tǒng)一眩光指數(shù)UGR、頻閃（SVM頻閃效應(yīng)可視度、PstLM閃變指數(shù)等）、反射比、采光系數(shù)等。參考GB 5700-2023 、GB/T5699-2017、JGJ/T 177-2009 等標(biāo)準(zhǔn)要求。

建筑玻璃及建筑用反射隔熱涂料隔熱性能檢測設(shè)備

建筑玻璃一般都有透光性和隔熱性能要求以及建筑用反射隔熱涂料有隔熱性能要求，在300-2500nm范圍內(nèi)，SPM30250紫外可見近紅外分光光度計可進行全光譜掃描，輸出材料的太陽光反射比、可見光反射比、近紅外反射比、太陽光透射比、可見光透射比、遮陽系數(shù)及霧度等參數(shù)。參考GB 50411-2019 、GB/T 2680-2021等標(biāo)準(zhǔn)要求。

認(rèn)證級鎮(zhèn)流器諧波含量檢測設(shè)備

HFM3000諧波和閃爍測試系統(tǒng)是一套認(rèn)證級諧波和閃爍全兼容的測試系統(tǒng)，符合最新版IEC 61000-3-2、IEC 61000-3-3、IEC61000-3-11、IEC61000-3-12 和GB 17625.1、GB 17625.2、GB/T 17625.8、GB/T 17625.7標(biāo)準(zhǔn)，同時滿足最新版IEC 61000-4-7中Ⅰ級儀器準(zhǔn)確度要求和IEC 61000-4-15標(biāo)準(zhǔn)對測量儀器的要求，實現(xiàn)對被測設(shè)備諧波和閃爍全兼容測試及分析并生成詳細(xì)的測試報告。